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詳細摘要： 日立SU-8010 二手掃描電鏡通過對樣品二次電子、背散射電子的采集，可進行物質微觀形貌和生物組織觀察；并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析，可以進行微區的點、線、面掃描測試。 場發射掃描電鏡SU8010它繼承了上一代S-4800的優點，性能有進一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對于S-4800可以在更低的加速電壓下高分辨像，明顯提升了以往很難觀測的低原子序數樣品。

詳細摘要： 二手 日立 SU8020 高分辨冷場發射電鏡具有的功能，適用于各種固態樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感的樣品表面超微形貌結構信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： SU-8010 日立二手冷場發射電鏡二次電子像、反射電子像進行觀察及圖像處理。可對金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時進行樣品表層的微區點、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： 二手 日立S-4800冷場發射電鏡觀察和檢測體相及納米結構的固態無機材料（非磁性）等表面形貌和組成

詳細摘要： 二手 日立 S-4700 冷場發射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對樣品進行微區成分分析。

詳細摘要： 二手 日立 SU-8010 冷場發射電鏡真空系統采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設備的真空度高達10-8Torr。該設備在高倍模式下放大倍數100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時達到1.0nm，在加速電壓1KV時達到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

詳細摘要： 二手 日本電子 場發射電鏡SEM+EDX:場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征.

詳細摘要： 二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。

詳細摘要： 二手 日本電子 JSM-7610F plus場發射電鏡 ?是一種優良的電子顯微鏡，其核心原理基于場發射電子源和電子光學系統。場發射電鏡利用強電場作用，使得電子通過量子隧道效應逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統的熱發射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實現更高的分辨率。

詳細摘要： 二手 日本電子 SEMIT100掃描電鏡主要特點為全數字化控制系統，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學、研究院所及制造業被廣泛使用。

詳細摘要： 二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實現了“3 kV加速電壓7 nm分辨率"的全新電子光學系統, 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能"＊1、以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器"＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標準。

詳細摘要： 二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進行結構和成份表征，是目前對掃描電鏡 的主流應用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應對當今人 們廣博的研究方向這一挑戰。“分析任何樣品，得到所有數據"， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材 料的性質和元素組成。

詳細摘要： 二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析。

詳細摘要： 二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

詳細摘要： 二手FIB+雙束FIB+場發射電鏡在高科技領域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術的企業，其產品在全球范圍內被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專業的第三方供應商，現提供現貨供應的美國FEI/賽默飛掃描電鏡。

詳細摘要： 二手SEM+EDX場發射電鏡:超高分辨率：場發射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠實現表面形貌觀察和成分分析。

詳細摘要： sigma500 二手蔡司場發射電鏡是蔡司公司推出的高性能設備，它采用成熟的GEMINI光學系統設計，分辨率超過0.8nm，能提供優秀分辨率和分析性能的科研平臺。這款設備專注于EDS幾何學設計，可以獲取分析性能，而且有多種探測器選擇，可以精準匹配您的應用程序，獲取微小粒子、表面、納米結構等多種圖像信息

詳細摘要： 二手日立SU-8010場發射電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時，分辨率為1.3nm。

詳細摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場發射掃描電鏡場發射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細摘要： （2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察。